AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)(OTDR) |
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關(guān)鍵字:中國(guó)OTDR,掌上型光時(shí)域反射計(jì),掌上型(OTDR dbzzAV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)(OTDR) 產(chǎn)品綜述:
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)(OTDR)是針對(duì)FTTx而設(shè)計(jì)的測(cè)試儀器。該產(chǎn)品主要用于測(cè)量光纖光纜的長(zhǎng)度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性,并能對(duì)光纖線路中的事件點(diǎn)、故障點(diǎn)準(zhǔn)確定位。廣泛應(yīng)用于光纖通信系統(tǒng)的工程施工、維護(hù)測(cè)試及緊急搶修;光纖光纜的研制與生產(chǎn)測(cè)試等。
V6416外觀結(jié)構(gòu)采用世界上最為先進(jìn)的雙色雙料一體化模具設(shè)計(jì)工藝,外觀新穎亮麗、堅(jiān)固耐用、操作非常方便,采用高級(jí)防反射LCD顯示,使得野外環(huán)境下操作界面清晰可見,整機(jī)采用雙路供電方式,大容量鋰電池使整機(jī)的工作時(shí)間長(zhǎng)達(dá)10小時(shí)以上,該產(chǎn)品具有兩種USB接口形式,既可接入U(xiǎn)盤,也能通過USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)通信。同時(shí),為方便操作人員攜帶方便,該產(chǎn)品采用了更人性化的設(shè)計(jì),為儀器配備了舒適的背帶。
主要特點(diǎn):
* 掌上型、重量輕、便于攜帶
* 業(yè)界最先進(jìn)的雙色雙料一體化防濺式模具工藝,堅(jiān)固耐用
* 高級(jí)防反射LCD,野外環(huán)境下顯示界面清晰可見
* 1.6m超短事件盲區(qū),測(cè)試光纖跳線輕松自如
* 具有自動(dòng)及手動(dòng)測(cè)試功能
* 雙USB接口功能,既可外接U盤,也能通過ActiveSync軟件與PC機(jī)通信
* 支持Bellcore GR196文件格式
* 智能電池電量指示及電池低電壓告警功能
* WinCE視窗操作系統(tǒng),中英文操作界面
* 10小時(shí)超長(zhǎng)電池續(xù)航時(shí)間,適于長(zhǎng)時(shí)間野外施工
* VFL可視故障定位功能
* OTDR光輸出頭采用可更換方式,端面清潔更加方便
* 超短事件盲區(qū)
AV6416具有超短的事件盲區(qū),尤其適于對(duì)超短的光纖鏈路或光纖跳線的測(cè)試。
* 快速自動(dòng)測(cè)試
AV6416的自動(dòng)測(cè)試功能使得用戶無需了解更多的有關(guān)該儀器操作的細(xì)節(jié),測(cè)試步驟變得非常簡(jiǎn)單,只需要接入光纖、點(diǎn)擊【測(cè)試】按鈕即可,儀器會(huì)自動(dòng)設(shè)置最佳測(cè)試條件并最終給出準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果,如測(cè)試曲線和事件列表等。
* 快速曲線分析
AV6416能夠快速準(zhǔn)確地查找出測(cè)試曲線中的事件點(diǎn)或故障點(diǎn)及其位置信息,并以事件表的形式列出線路中所有的事件信息,這對(duì)線路維護(hù)人員非常有用,既提高測(cè)試效率,又無需了解難以理解的背景知識(shí)。
* 超強(qiáng)的文件管理
AV6416具有強(qiáng)大的文件管理功能,除了能對(duì)機(jī)內(nèi)或U盤的文件進(jìn)行存儲(chǔ)、瀏覽、刪除外,還能夠外接基于PCL語言的激光打印機(jī)或噴墨打印機(jī),以便打印測(cè)試報(bào)表。除此之外,AV6416還可借助ActiveSync軟件通過USB數(shù)據(jù)線與PC機(jī)高速通信。
* 便利的VFL功能
借助AV6416的可視紅光故障(VFL)功能可以非常方便、快捷地發(fā)現(xiàn)短距離光纖鏈路中斷點(diǎn)或大的損耗點(diǎn)位置,以便維護(hù)人員及時(shí)采取措施,節(jié)省時(shí)間。
* 典型應(yīng)用
AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)主要用于對(duì)FTTX網(wǎng)路的測(cè)試。該產(chǎn)品為用戶提供了一種低成本的測(cè)試方案,具有手動(dòng)測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試和盲區(qū)測(cè)試3種模式。
手動(dòng)測(cè)試模式:該測(cè)試模式適于那些對(duì)該儀器比較了解的熟練操作者,因此能夠得到更加準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。在手動(dòng)測(cè)試模式中,用戶可根據(jù)測(cè)試需要選擇實(shí)時(shí)測(cè)試模式或平均測(cè)試模式,實(shí)時(shí)測(cè)試可快速檢測(cè)光纖鏈路的動(dòng)態(tài)變化,應(yīng)用于需要實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)或觀察光纖鏈路的對(duì)接過程及效果。
平均測(cè)試模式:該模式適用于對(duì)狀態(tài)穩(wěn)定光纖鏈路的測(cè)試,應(yīng)用平均測(cè)試模式可以盡最大可能地抑制測(cè)試曲線中的噪聲,從而得到更加精確的測(cè)試結(jié)果。在平均測(cè)試模式中,平均次數(shù)的大小將影響最測(cè)試曲線中噪聲的抑制效果,平均次數(shù)越大,則對(duì)噪聲的抑制效果越好,但測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)的加長(zhǎng),因此,在實(shí)際使用中要根據(jù)需要設(shè)置平均次數(shù)。
盲區(qū)測(cè)試模式:該模式適用于對(duì)超短距離光纖的測(cè)試,如測(cè)試光纖跳線的長(zhǎng)度等,在該模式下,如希望儀器獲得最好的測(cè)試結(jié)果,要求被測(cè)光纖末端的反射損耗(或稱回波損耗)大于40dB。
技術(shù)規(guī)范
注:1. 環(huán)境溫度23℃±2℃,最大測(cè)試脈沖寬度,平均次數(shù)大于300。
2. 盲區(qū)測(cè)試模式(量程4km、脈寬10ns、衰減10dB),光纖端面反射損耗≥40dB,典型值。
3. 低亮度、不測(cè)試。
訂貨信息
主機(jī):AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)
標(biāo)配:
標(biāo)準(zhǔn)模塊:AV6416掌上型光時(shí)域反射計(jì)可選購的模塊如下表:
選件:
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